Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Knihy - Springer London Ltd - 9781848820586 - 01. decembra 2008
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

Cena
€ 149,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 12. - 20. okt
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Edmund G. Seebauer
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 01. decembra 2008
ISBN13 9781848820586
Vydavatelia Springer London Ltd
Strany 298
Rozmery 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa