Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Knihy - Springer London Ltd - 9781848820586 - 01. decembra 2008
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

Cena
€ 149,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 6. - 16. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Edmund G. Seebauer
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 01. decembra 2008
ISBN13 9781848820586
Vydavatelia Springer London Ltd
Strany 298
Rozmery 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa