Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Knihy - Springer London Ltd - 9781849968201 - 22. októbra 2010
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

Cena
€ 176,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 27. aug - 10. sep
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Edmund G. Seebauer
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 22. októbra 2010
ISBN13 9781849968201
Vydavatelia Springer London Ltd
Strany 298
Rozmery 155 × 235 × 16 mm   ·   435 g
Jazyk Angličtina  

Viac od Edmund G. Seebauer

Zobraziť všetko

Viac od toho istého vydavateľa