Povedzte o tejto položke priateľom:
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Edmund G. Seebauer Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes
Edmund G. Seebauer
"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.
298 pages, 30 black & white tables, biography
| Médium | Knihy Paperback Book (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom) |
| Vydané | 22. októbra 2010 |
| ISBN13 | 9781849968201 |
| Vydavatelia | Springer London Ltd |
| Strany | 298 |
| Rozmery | 155 × 235 × 16 mm · 435 g |
| Jazyk | Angličtina |
Viac od Edmund G. Seebauer
Zobraziť všetkoViac od toho istého vydavateľa
Pozrieť všetko od Edmund G. Seebauer ( napr. Paperback Book a Hardcover Book )