Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 04. júna 2013
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Cena
€ 159,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 20. - 28. júl

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 04. júna 2013
ISBN13 9781489915245
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 462
Rozmery 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Jazyk Angličtina  
Editor Thong, John T.L.

Mere med samme udgiver

Pozrieť všetko od John T L Thong ( napr. Hardcover Book a Paperback Book )