Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Knihy - Springer Science+Business Media - 9780306443602 - 31. júla 1993
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices 1993 edition

Cena
€ 180,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 21. okt - 4. nov
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta John T L Thong

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

Marc Notes: Includes bibliographical references and index. Table of Contents: Background to Electron Beam Testing; W. C. Nixon. Introduction; J. T. L. Thong. Principles and Applications; J. T. L. Thong. Essential Electron Optics; A. R. Dinnis. Electron Beam Interaction with Specimen; K. Ura. Electron Spectrometers and Voltage Measurements; L. Dubbeldam. High Speed Techniques; J. T. L. Thong. Picosecond Photoemission Probing; H. Beha, R. Clauberg. Signal and Image Processing; F. M. Boland, E. R. Lynch. System Integration; M. Battu, et al. Practical Considerations in Electron Beam Testing; T. J. Aton. Industrial Case Studies; D. W. Ranasinghe, et al. Index."

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 31. júla 1993
ISBN13 9780306443602
Vydavatelia Springer Science+Business Media
Strany 462
Rozmery 178 × 254 × 32 mm   ·   1,05 kg
Editor Thong, John T.L.

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od John T L Thong