Povedzte o tejto položke priateľom:
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Otto Meyer Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2
Otto Meyer
The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.
508 pages, biography
| Médium | Knihy Paperback Book (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom) |
| Vydané | 30. januára 2012 |
| ISBN13 | 9781461588818 |
| Vydavatelia | Springer-Verlag New York Inc. |
| Strany | 491 |
| Rozmery | 178 × 254 × 26 mm · 879 g |
| Jazyk | Angličtina |
| Editor | Meyer, Otto |
Viac od Otto Meyer
Zobraziť všetkoMere med samme udgiver
Viac z tejto série
Pozrieť všetko od Otto Meyer ( napr. Hardcover Book , Paperback Book a DVD )