Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 30. januára 2012
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Cena
€ 52,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 17. - 27. júl
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 30. januára 2012
ISBN13 9781461588818
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 491
Rozmery 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Jazyk Angličtina  
Editor Meyer, Otto

Viac od Otto Meyer

Zobraziť všetko

Mere med samme udgiver

Viac z tejto série