Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1 - Otto Meyer - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588788 - 31. mája 2013
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Cena
€ 52,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 10. - 18. sep
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Otto Meyer
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


524 pages, black & white illustrations

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 31. mája 2013
ISBN13 9781461588788
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 494
Rozmery 178 × 254 × 26 mm   ·   898 g
Jazyk Angličtina  

Viac od Otto Meyer

Zobraziť všetko

Viac z tejto série

Viac od toho istého vydavateľa