Quantitative X-Ray Diffractometry - Lev S. Zevin - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461395379 - 27. decembra 2011
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Lev S. Zevin
Quantitative X-Ray Diffractometry Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Cena
€ 101,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 23. - 31. júl
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Lev S. Zevin

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.

398 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 27. decembra 2011
ISBN13 9781461395379
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 372
Rozmery 170 × 244 × 20 mm   ·   630 g
Jazyk Angličtina  
Editor Mureinik, Inez

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Lev S. Zevin ( napr. Paperback Book )