Povedzte o tejto položke priateľom:
Quantitative X-Ray Diffractometry Lev S. Zevin Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition
Cena
€ 101,49
Objednané zo vzdialeného skladu
Očakávané doručenie 4. - 12. jún
Naši zákazníci hovoria:
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic
Quantitative X-Ray Diffractometry
Lev S. Zevin
One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.
398 pages, biography
| Médium | Knihy Paperback Book (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom) |
| Vydané | 27. decembra 2011 |
| ISBN13 | 9781461395379 |
| Vydavatelia | Springer-Verlag New York Inc. |
| Strany | 372 |
| Rozmery | 170 × 244 × 20 mm · 630 g |
| Jazyk | Angličtina |
| Editor | Mureinik, Inez |
Pozrieť všetko od Lev S. Zevin ( napr. Paperback Book )