Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing -  - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 04. októbra 2012
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Cena
€ 101,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 18. - 26. jún
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.


167 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 04. októbra 2012
ISBN13 9781461377986
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 167
Rozmery 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Jazyk Angličtina  
Editor Zorian, Yervant

Mere med samme udgiver