High Performance Gan Light-emitting Diode: a Reliability Study - Zonglin Li - Knihy - LAP LAMBERT Academic Publishing - 9783844395297 - 17. mája 2011
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Zonglin Li
High Performance Gan Light-emitting Diode: a Reliability Study

Cena
€ 44,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 10. - 18. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Zonglin Li

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

The reliability of InGaN/GaN light emitting diodes (LEDs) with different emission wavelengths and different geometries was studied. Device performances, like current-voltage characteristics, 1/f noise spectrum, leakage, static resistance, were measured. The devices underwent a 1000-hr constant-current stress test and their optical output degradation rate was examined. The results were explained by cross-related data.

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 17. mája 2011
ISBN13 9783844395297
Vydavatelia LAP LAMBERT Academic Publishing
Strany 80
Rozmery 150 × 5 × 226 mm   ·   137 g
Jazyk Nemčina  

Pozrieť všetko od Zonglin Li