Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Knihy - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 01. novembra 2012
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

Cena
€ 337,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 5. - 19. aug
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Peter Pichler
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.


554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 01. novembra 2012
ISBN13 9783709172049
Vydavatelia Springer Verlag GmbH
Strany 554
Rozmery 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa