Povedzte o tejto položke priateľom:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Peter Pichler 2004 edition
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
| Médium | Knihy Hardcover Book (Kniha s pevnou väzbou a obalom) |
| Vydané | 02. júna 2004 |
| ISBN13 | 9783211206874 |
| Vydavatelia | Springer Verlag GmbH |
| Strany | 554 |
| Rozmery | 178 × 254 × 31 mm · 1,18 kg |
| Jazyk | Angličtina Nemčina |
Viac od Peter Pichler
Zobraziť všetkoViac od toho istého vydavateľa
Pozrieť všetko od Peter Pichler