Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology - S Morita - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642627729 - 23. októbra 2012
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

S Morita
Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Cena
€ 198,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 23. okt - 2. nov
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta S Morita

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

458 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 23. októbra 2012
ISBN13 9783642627729
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 440
Rozmery 155 × 235 × 24 mm   ·   639 g
Jazyk Nemčina  
Editor Meyer, E.
Editor Morita, S.
Editor Wiesendanger, Roland

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od S Morita