Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 12. februára 2010
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Cena
€ 108,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 18. - 26. jún

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Tiež dostupné ako:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 12. februára 2010
ISBN13 9783642065699
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 420
Rozmery 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Jazyk Nemčina  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver