Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21. februára 2006
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

Cena
€ 146,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 28. júl - 5. aug

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 21. februára 2006
Pôvodný dátum vydania 2005
ISBN13 9783540262428
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 420
Rozmery 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Jazyk Nemčina  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

Viac od toho istého vydavateľa