Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology -  - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540850380 - 04. novembra 2008
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition

Cena
€ 146,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 29. okt - 6. nov
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.


279 pages, 14 black & white tables, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 04. novembra 2008
ISBN13 9783540850380
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 224
Rozmery 162 × 244 × 16 mm   ·   542 g
Jazyk Nemčina  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

Viac od toho istého vydavateľa