Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Knihy - Springer International Publishing AG - 9783319912035 - 18. júla 2018
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

Cena
€ 52,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 5. - 13. okt
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Ireneusz Mrozek
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 18. júla 2018
ISBN13 9783319912035
Vydavatelia Springer International Publishing AG
Strany 135
Rozmery 150 × 220 × 20 mm   ·   454 g
Jazyk Francúzština  

Viac od toho istého vydavateľa