Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Knihy - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 01. februára 2019
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Cena
€ 52,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 10. - 18. sep
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Ireneusz Mrozek
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 01. februára 2019
ISBN13 9783030081980
Vydavatelia Springer Nature Switzerland AG
Strany 135
Rozmery 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
Jazyk Nemčina  

Viac od toho istého vydavateľa