Povedzte o tejto položke priateľom:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Ireneusz Mrozek Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Ireneusz Mrozek
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.
135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
| Médium | Knihy Paperback Book (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom) |
| Vydané | 01. februára 2019 |
| ISBN13 | 9783030081980 |
| Vydavatelia | Springer Nature Switzerland AG |
| Strany | 135 |
| Rozmery | 150 × 220 × 10 mm · 454 g |
| Jazyk | Nemčina |
Viac od toho istého vydavateľa
Pozrieť všetko od Ireneusz Mrozek ( napr. Paperback Book a Hardcover Book )