Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing: Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS Curves - Wolf Kleinert - Knihy - Springer International Publishing AG - 9783319813790 - 27. mája 2018
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Wolf Kleinert
Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing: Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS Curves Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

Dostávať e-mail, keď bude položka k dispozícii
Do you have a profile? Prihlásiť sa
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Wolf Kleinert

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

This book presents a precise approach for defect sizing using ultrasonics. The approach presented here is not only valid for conventional angle beam probes, but also for phased array angle beam probes. Its content is of interest to all those working with distance gain size (DGS) methods or are using distance amplitude correction (DAC) curves.

118 pages, 83 Illustrations, color; 7 Illustrations, black and white; XVIII, 118 p. 90 illus., 83 il

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 27. mája 2018
ISBN13 9783319813790
Vydavatelia Springer International Publishing AG
Strany 118
Rozmery 156 × 232 × 10 mm   ·   224 g

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Wolf Kleinert