Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Knihy - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692117 - 20. apríla 2022
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Sebastian Huhn
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Dostávať e-mail, keď bude položka k dispozícii
Do you have a profile? Prihlásiť sa
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Sebastian Huhn

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 20. apríla 2022
ISBN13 9783030692117
Vydavatelia Springer Nature Switzerland AG
Strany 164
Rozmery 150 × 220 × 10 mm   ·   296 g
Jazyk Nemčina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Sebastian Huhn ( napr. Hardcover Book , Paperback Book a Book )