Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Knihy - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692087 - 20. apríla 2021
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Cena
€ 110,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 10. - 18. sep
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Sebastian Huhn
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 20. apríla 2021
ISBN13 9783030692087
Vydavatelia Springer Nature Switzerland AG
Strany 164
Rozmery 150 × 220 × 20 mm   ·   439 g
Jazyk Nemčina  

Viac od Sebastian Huhn

Zobraziť všetko

Viac od toho istého vydavateľa