Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Ruijing Shen - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489987877 - 13. apríla 2014
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Ruijing Shen
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 2012 edition

Cena
€ 110,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 2. - 12. okt
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Ruijing Shen

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

306 pages, 61 black & white tables, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 13. apríla 2014
ISBN13 9781489987877
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 306
Rozmery 155 × 235 × 18 mm   ·   511 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Ruijing Shen