Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Ruijing Shen - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461407874 - 18. marca 2012
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Ruijing Shen
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 2012 edition

Cena
€ 98,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 29. okt - 6. nov
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Ruijing Shen

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

336 pages, 61 black & white tables, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 18. marca 2012
ISBN13 9781461407874
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 306
Rozmery 155 × 235 × 19 mm   ·   644 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Ruijing Shen