Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 - Samuel H Cohen - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475793277 - 04. júna 2013
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Cena
€ 149,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 21. - 29. okt
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Samuel H Cohen
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994


259 pages, 250 black & white illustrations, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 04. júna 2013
ISBN13 9781475793277
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 250
Rozmery 178 × 254 × 14 mm   ·   462 g
Jazyk Angličtina  
Editor Cohen, Samuel H.
Editor Lightbody, Marcia L.

Viac od Samuel H Cohen

Viac z tejto série

Viac od toho istého vydavateľa