Povedzte o tejto položke priateľom:
Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Samuel H Cohen Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition
Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2
Samuel H Cohen
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
259 pages, 250 black & white illustrations, biography
| Médium | Knihy Paperback Book (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom) |
| Vydané | 04. júna 2013 |
| ISBN13 | 9781475793277 |
| Vydavatelia | Springer-Verlag New York Inc. |
| Strany | 250 |
| Rozmery | 178 × 254 × 14 mm · 462 g |
| Jazyk | Angličtina |
| Editor | Cohen, Samuel H. |
| Editor | Lightbody, Marcia L. |
Viac od Samuel H Cohen
Viac z tejto série
Viac od toho istého vydavateľa
Pozrieť všetko od Samuel H Cohen