Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - 08. júna 2013
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

Cena
€ 101,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 23. - 31. júl
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Patrick Echlin
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 08. júna 2013
ISBN13 9781475790290
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 454
Rozmery 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
Jazyk Angličtina  

Viac od Patrick Echlin

Zobraziť všetko

Viac od toho istého vydavateľa