Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - 08. júna 2013
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

Cena
€ 101,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 11. - 19. jún
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 08. júna 2013
ISBN13 9781475790290
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 454
Rozmery 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
Jazyk Angličtina  

Viac od Patrick Echlin

Zobraziť všetko

Mere med samme udgiver