Advances in X-Ray Analysis: Volume 33 - - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461399988 - 02. júna 2012
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Advances in X-Ray Analysis: Volume 33 Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

Cena
€ 52,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 23. okt - 2. nov

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

The Plenary Session on x-ray analysis of thin films did not just happen this year but really began four years ago with Paul Predecki suggesting a special session devoted to thin film techniques. They were invited speakers for the 1985 special session on thin films and instructors for the 1987 workshop on epitaxial thin films.

724 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 02. júna 2012
ISBN13 9781461399988
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 704
Rozmery 150 × 220 × 10 mm   ·   1,14 kg
Jazyk Angličtina  
Editor Barrett, Charles S.
Editor Gilfrich, John V.
Editor Huang, Ting C.
Editor Jenkins, Ron

Viac od toho istého vydavateľa