Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering - Kai-yuan Cai - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375593 - 12. októbra 2012
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition

Cena
€ 228,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 14. - 28. okt
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Kai-yuan Cai
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1


268 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 12. októbra 2012
ISBN13 9781461375593
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 268
Rozmery 155 × 235 × 15 mm   ·   412 g
Jazyk Angličtina  

Viac od Kai-yuan Cai

Viac od toho istého vydavateľa