Povedzte o tejto položke priateľom:
Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level Michael K. Miller Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level
Michael K. Miller
The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution.
254 pages, biography
| Médium | Knihy Paperback Book (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom) |
| Vydané | 28. októbra 2012 |
| ISBN13 | 9781461369219 |
| Vydavatelia | Springer-Verlag New York Inc. |
| Strany | 239 |
| Rozmery | 170 × 244 × 14 mm · 426 g |
| Jazyk | Angličtina |
Viac od Michael K. Miller
Zobraziť všetkoViac od toho istého vydavateľa
Pozrieť všetko od Michael K. Miller