High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31. januára 2012
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Cena
€ 98,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 2. - 10. júl
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Tiež dostupné ako:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 31. januára 2012
Pôvodný dátum vydania 2011
ISBN13 9781441999757
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 193
Rozmery 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Jazyk Angličtina  

Mere med samme udgiver