Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952875 - 21. septembra 2011
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

J. Altet
Thermal Testing of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Cena
€ 101,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 20. - 28. okt
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta J. Altet

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

204 pages, 102 black & white illustrations, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 21. septembra 2011
ISBN13 9781441952875
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 204
Rozmery 155 × 235 × 12 mm   ·   322 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od J. Altet