Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923066 - 23. novembra 2010
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Cena
€ 150,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 15. - 23. jún
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.


282 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 23. novembra 2010
ISBN13 9781441923066
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 282
Rozmery 155 × 235 × 16 mm   ·   417 g
Jazyk Angličtina  

Viac od Adam Foster

Zobraziť všetko

Mere med samme udgiver