Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 29. októbra 2010
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Cena
€ 227,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 9. - 17. júl

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Tiež dostupné ako:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 29. októbra 2010
ISBN13 9781441922090
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 522
Rozmery 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
Jazyk Angličtina  
Editor Wang, Zhong Lin
Editor Zhou, Weilie

Mere med samme udgiver

Pozrieť všetko od Weilie Zhou ( napr. Hardcover Book a Paperback Book )