Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing - Said Hamdioui - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402077524 - 31. marca 2004
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Said Hamdioui
Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing 2004 edition

Cena
€ 101,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 19. - 27. okt
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Said Hamdioui

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

221 pages, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 31. marca 2004
ISBN13 9781402077524
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 221
Rozmery 155 × 235 × 14 mm   ·   526 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Said Hamdioui