Image-Based Fractal Description of Microstructures - J.M. Li - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402075070 - 31. júla 2003
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

J.M. Li
Image-Based Fractal Description of Microstructures 2003 Edition

Cena
€ 101,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 3. - 11. dec
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta J.M. Li

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book.

272 pages, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 31. júla 2003
ISBN13 9781402075070
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 272
Rozmery 155 × 235 × 17 mm   ·   616 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od J.M. Li