CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Knihy - Cambridge University Press - 9781107408326 - 05. júna 2014
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

Cena
€ 43,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 10. - 24. júl

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

194 pages, black & white illustrations

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 05. júna 2014
ISBN13 9781107408326
Vydavatelia Cambridge University Press
Strany 194
Rozmery 152 × 229 × 10 mm   ·   412 g   (Hmotnosť (odhadovaná))
Jazyk Angličtina  
Editor Butterbaugh, Jeffery W.
Editor Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Editor Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Editor Rachmady, Willy
Editor Taylor, Bill

Mere med samme udgiver