Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition - Joseph Goldstein - Knihy - Springer Science+Business Media - 9780306472923 - 31. januára 2003
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition Third Edition 2003 Edition


Dostávať e-mail, keď bude položka k dispozícii
Do you have a profile? Prihlásiť sa
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Joseph Goldstein
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.


709 pages, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 31. januára 2003
ISBN13 9780306472923
Vydavatelia Springer Science+Business Media
Strany 689
Rozmery 178 × 255 × 38 mm   ·   1,68 kg

Viac od Joseph Goldstein

Viac od toho istého vydavateľa