Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - 31. mája 2013
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

Cena
€ 126,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 14. - 28. aug
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Joseph Goldstein
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.


709 pages, biography

Médium Knihy     Book
Vydané 31. mája 2013
ISBN13 9781461349693
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 689
Rozmery 255 × 182 × 43 mm   ·   1,22 kg
Jazyk Angličtina  

Viac od Joseph Goldstein

Zobraziť všetko

Viac od toho istého vydavateľa