Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - 31. mája 2013
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

Cena
€ 111,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 11. - 19. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Joseph Goldstein
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.


709 pages, biography

Médium Knihy     Book
Vydané 31. mája 2013
ISBN13 9781461349693
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 689
Rozmery 255 × 182 × 43 mm   ·   1,22 kg
Jazyk Angličtina  

Viac od Joseph Goldstein

Viac od toho istého vydavateľa