Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Cher Ming Tan - Knihy - Springer Verlag, Singapore - 9789814451208 - 04. mája 2013
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 2013 edition

Cena
€ 52,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 5. - 13. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Cher Ming Tan
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.


120 pages, 73 black & white illustrations, 2 colour illustrations, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 04. mája 2013
ISBN13 9789814451208
Vydavatelia Springer Verlag, Singapore
Strany 103
Rozmery 155 × 235 × 6 mm   ·   1,88 kg

Viac od Cher Ming Tan

Viac od toho istého vydavateľa