VLSI Design and Test for Systems Dependability - - Knihy - Springer Verlag, Japan - 9784431568636 - 26. januára 2019
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

VLSI Design and Test for Systems Dependability Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Dostávať e-mail, keď bude položka k dispozícii
Do you have a profile? Prihlásiť sa

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

800 pages, 20 Tables, color; 352 Illustrations, color; 233 Illustrations, black and white; XVII, 800

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 26. januára 2019
ISBN13 9784431568636
Vydavatelia Springer Verlag, Japan
Strany 800
Rozmery 150 × 220 × 10 mm   ·   1,23 kg
Editor Asai, Shojiro

Viac od toho istého vydavateľa