VLSI Design and Test for Systems Dependability - - Knihy - Springer Verlag, Japan - 9784431565925 - 01. augusta 2018
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

VLSI Design and Test for Systems Dependability 1st ed. 2019 edition

Cena
€ 228,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 17. - 27. júl

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

800 pages, 20 Tables, color; 352 Illustrations, color; 233 Illustrations, black and white; XVII, 800

Médium Knihy     Book
Vydané 01. augusta 2018
ISBN13 9784431565925
Vydavatelia Springer Verlag, Japan
Strany 800
Rozmery 164 × 242 × 50 mm   ·   1,38 kg
Editor Asai, Shojiro

Mere med samme udgiver