Data-Driven Fault Detection for Industrial Processes: Canonical Correlation Analysis and Projection Based Methods - Zhiwen Chen - Knihy - Springer - 9783658167554 - 09. januára 2017
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Zhiwen Chen
Data-Driven Fault Detection for Industrial Processes: Canonical Correlation Analysis and Projection Based Methods 1st ed. 2017 edition

Cena
€ 94,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 9. - 23. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Zhiwen Chen

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Zhiwen Chen aims to develop advanced fault detection (FD) methods for the monitoring of industrial processes.

112 pages, 39 black & white illustrations, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 09. januára 2017
ISBN13 9783658167554
Vydavatelia Springer
Strany 112
Rozmery 148 × 210 × 7 mm   ·   167 g
Jazyk Francúzština  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Zhiwen Chen