Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642445019 - 26. novembra 2014
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2012 edition

Cena
€ 149,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 29. okt - 6. nov
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Hui Xie
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.


344 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 26. novembra 2014
ISBN13 9783642445019
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 344
Rozmery 155 × 235 × 19 mm   ·   503 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa