X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences - Shih-Lin Chang - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642059476 - 05. decembra 2010
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Shih-Lin Chang
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004 edition

Cena
€ 149,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 24. júl - 3. aug
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Shih-Lin Chang

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.

436 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 05. decembra 2010
ISBN13 9783642059476
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 436
Rozmery 155 × 235 × 23 mm   ·   621 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Shih-Lin Chang ( napr. Hardcover Book a Paperback Book )