X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences - Shih-Lin Chang - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540211969 - 24. júna 2004
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Shih-Lin Chang
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences 2004 edition

Cena
€ 177,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 14. - 28. aug
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Shih-Lin Chang

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.

436 pages, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 24. júna 2004
ISBN13 9783540211969
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 436
Rozmery 156 × 234 × 25 mm   ·   807 g
Jazyk Nemčina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Shih-Lin Chang ( napr. Hardcover Book a Paperback Book )