Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology - Donna R. Kemp - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540373186 - 18. októbra 2006
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

Cena
€ 146,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 13. - 23. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Donna R. Kemp
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.


338 pages, 7 black & white tables, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 18. októbra 2006
ISBN13 9783540373186
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 338
Rozmery 155 × 235 × 19 mm   ·   648 g
Jazyk Angličtina  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald
Editor Kawata, Satoshi

Viac od Donna R. Kemp

Viac od toho istého vydavateľa