Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - 22. februára 2006
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 Edition

Cena
€ 146,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 3. - 11. dec
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Bharat Bhushan
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 22. februára 2006
ISBN13 9783540269090
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 378
Rozmery 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
Jazyk Nemčina  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

Viac od Bharat Bhushan

Viac od toho istého vydavateľa