Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Sayil - Knihy - Springer International Publishing AG - 9783319696720 - 04. decembra 2017
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 1st ed. 2018 edition

Cena
€ 101,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 17. - 25. sep
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Sayil

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

Médium Knihy     Book
Vydané 04. decembra 2017
ISBN13 9783319696720
Vydavatelia Springer International Publishing AG
Strany 93
Rozmery 150 × 220 × 20 mm   ·   343 g
Jazyk Nemčina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Sayil