Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - Knihy - Springer International Publishing AG - 9783031442322 - 07. februára 2024
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation 2024 edition

Cena
€ 89,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 29. okt - 6. nov
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Fangzhou Xia
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).


370 pages, 200 Tables, color; 125 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white; XXIV, 370

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 07. februára 2024
ISBN13 9783031442322
Vydavatelia Springer International Publishing AG
Strany 366
Rozmery 150 × 220 × 20 mm   ·   823 g
Jazyk Nemčina  

Viac od toho istého vydavateľa