Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Knihy - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516123 - 14. októbra 2021
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Behnam Ghavami
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Cena
€ 51,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 12. - 20. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Behnam Ghavami

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 14. októbra 2021
ISBN13 9783030516123
Vydavatelia Springer Nature Switzerland AG
Strany 114
Rozmery 150 × 220 × 10 mm   ·   209 g
Jazyk Nemčina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Behnam Ghavami